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Frank Siegelin: Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Frank Siegelin

Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

  • broschiert: 134 Seiten
    Format: 20,5 x 14,5
    ISBN 978-3-8316-0192-9

    39,00 € (Preisbindung aufgehoben)

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