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Hans-Peter Lang: Strukturuntersuchungen an epitaktisch abgeschiedenen SiC-Schichten

Hans-Peter Lang

Strukturuntersuchungen an epitaktisch abgeschiedenen SiC-Schichten

  • broschiert: 143 Seiten
    Format: 20,5 x 14,5
    ISBN 978-3-89675-368-7

    39,50 € (Preisbindung aufgehoben)

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