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Markus Tilsch: Eigenschaften ionenstrahlgesputterter optischer SiO2- und TiO2-Schichten bei unterschiedlichen Wachstumsbedingungen und Veränderungen bei thermischer Nachbehandlung

Markus Tilsch

Eigenschaften ionenstrahlgesputterter optischer SiO2- und TiO2-Schichten bei unterschiedlichen Wachstumsbedingungen und Veränderungen bei thermischer Nachbehandlung

  • broschiert: 129 Seiten
    Format: 20,5 x 14,5
    ISBN 978-3-89675-267-3

    44,98 € (Preisbindung aufgehoben)

    vergriffen

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