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Elisabeth Soergel: Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop

Elisabeth Soergel

Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop

  • broschiert: 216 Seiten
    Format: 20,5 x 14,5
    ISBN 978-3-89675-408-0

    54,98 € (Preisbindung aufgehoben)

    vergriffen

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