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Klaus Neumaier: Entwicklung und Anwendung eines Ellipsometrischen Mikroskops zur lokalen Dickenmessung ultradünner, mikrostrukturierter Adsorbatfilme auf Festkörperoberflächen

Klaus Neumaier

Entwicklung und Anwendung eines Ellipsometrischen Mikroskops zur lokalen Dickenmessung ultradünner, mikrostrukturierter Adsorbatfilme auf Festkörperoberflächen

  • broschiert: 119 Seiten
    Format: 20,5 x 14,5
    ISBN 978-3-89675-573-5

    43,98 € (Preisbindung aufgehoben)

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